Weiter zum Inhalt
VuFind
ילקוט:
0
פריטים
(מלא)
שפה
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
כל השדות
כותר
כותרת כתב-העת
VerfasserIn KünstlerIn
Ausstellung Körperschaft
נושא
סימן המיקום
ISBN/ISSN
מצא
מתקדם
CAD im Test
יצירת מראה מקום
שליחה במסרון
שלח את זה
הדפסה
יצוא רשומה
יצוא אל RefWorks
יצוא אל EndNoteWeb
יצוא אל EndNote
יצוא אל MARC
יצוא אל MARCXML
יצוא אל RDF
יצוא אל BibTeX
יצוא אל RIS
הוספה לילקוט
הסרה מילקוט
Persistenter Link
CAD im Test : Das Institut für Angewandte Mikroelektronik, Braunschweig
מידע ביבליוגרפי
הוצא לאור ב:
ARCH+
(1985)83, S. 51-54
מחבר ראשי:
Schulitz, Helmut C.
(VerfasserIn)
פורמט:
Aufsatz in Zeitschrift
שפה:
German
יצא לאור:
1985
נושאים:
Aufsatz
פריטים קשורים:
In:
ARCH+
תיאור
פריטים דומים
תצוגת צוות
תיאור
סימן המיקום:
MAG ZS Arch
פריטים דומים
Test: CAD-Systeme
מאת: Kernchen, Eberhard
יצא לאור: (1985)
Institut für Angewandte Mikroelektronik in Braunschweig
מאת: Schulitz, Helmut
יצא לאור: (1988)
CAD im Selbstbau
מאת: Hovestadt, Ludger
יצא לאור: (1985)
CAD und die Dekanekonferenz
מאת: Wertz, Elmar
יצא לאור: (1985)
CAD Kompliziertheit oder Komplexität : Ein Gespärch mit Lucien Kroll
מאת: Serwe, Hans-Jürgen, et al.
יצא לאור: (1985)