Aftermath : World Trade Center Archive / Joel Meyerowitz
Weitere Personen: | |
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Format: | Buch |
Sprache: | German |
Veröffentlicht: |
New York [u.a.] :
Phaidon,
2006
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Schlagworte: |
Beschreibung: | 349 S. : überw. Ill. |
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ISBN: | 978-0-7148-4655-2 0-7148-4655-4 |
Signatur: | KÜN Meye 10 2006 |