Aftermath : World Trade Center Archive / Joel Meyerowitz

Bibliographische Detailangaben
Weitere Personen: Meyerowitz, Joel (MitwirkendeR)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: New York [u.a.] : Phaidon, 2006
Schlagworte:
Beschreibung
Beschreibung:349 S. : überw. Ill.
ISBN:978-0-7148-4655-2
0-7148-4655-4
Signatur:KÜN Meye 10 2006